X射线工业CT的空间分辨率受到多种因素的影响，主要包括以下几个方面：

• 射线源焦点尺寸：射线源焦点尺寸越小，产生的X射线束投影边缘就越锐利清晰（尤其是在高放大倍率的条件下），因此构建的体素图像就会更清晰，系统就能够实现更高的空间分辨率。
  
• 探测器孔径（探元像素）尺寸：探测器像素尺寸越小，投影成像的像素分辨率就高，同样也能获得更清晰锐利的图像，也同样有助于提高空间分辨率。
• 工业CT设备平台的几何放大倍数：实际上就是射线源至探测器距离（SDD）除以检测物体的距离（SOD)。理论上放大倍率越高，系统就能达到更高的空间分辨率。但是实际应用中不是完全能够达到很高的几何放大倍数，例如工件尺寸大小的限制和射线源随距离越长衰减越大等几方面的影响，通常只能选择一个相对最优的几何放大倍数，实现针对零件检测要求的最佳空间分辨率。
  
• 图像重建算法：不同的图像重建算法对空间分辨率也有一定影响。通过优化图像重建算法，选择合适的滤波函数、重建视野等，可以一定程度地提高成像系统的空间分辨率。

此外，X射线剂量（信噪比）、矩阵、层厚（数）、扫描装置噪声控制技术等对空间分辨率均会产生影响。

目前行业里对X射线源焦点尺寸的评估方法中，最被广泛认可和应用的是JIMA线对卡检测。

JIMA卡，全称为JIMA分辨率测试卡，由日本检测仪器制造商协会（JIMA）研发制造，专门用于精确测量和评估X射线源的分辨率。JIMA卡上设计排列了各种尺寸间隔的线对图案，这些线对能够精确测定X射线射线源的焦点尺寸，从而评估出射线源所具备的最佳分辨率极限。

在实际应用中，将JIMA卡放置在工业CT扫描区域，启动进行扫描后，获取JIMA卡的二维DR图像或三维体素图像。观察和分析图像线对的清晰度和可分辨性。达到能够清晰分辨的最小线对间距就可以认为是该射线源的焦点尺寸。

空间分辨率是X射线工业CT成像设备最重要的评价指标。通过深入了解其定义、影响因素以及检测方法，我们能够更好地掌握X射线成像技术的核心要素，为实际应用提供有力支持。